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博曼x-ray膜厚測試儀特點:
X射線激發(fā)系統(tǒng)  垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng) 
空冷式微聚焦型X射線管，Be窗 
標(biāo)準(zhǔn)靶材：Rh靶;任選靶材：W、Mo、Ag等 
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標(biāo)準(zhǔn)       75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選 
裝備有安全防射線光閘 
精度高、穩(wěn)定性好
強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計、處理功能
測量范圍寬 二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選 
準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng)  多可同時裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器 
多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選： －圓形，如4、6、8、12、20 mil等 －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等    
測量斑點尺寸  在12.7mm聚焦距離時，小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器)
X-RAY鍍層膜厚測試儀 在技術(shù)上一直以來都于全的測厚行業(yè),X-射線熒光鍍層厚度測量儀能夠測量包含原子序號17至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。
A：區(qū)別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定多4層及24種元素。
B ：精確度于，精確到0.025mil
C ：數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求,如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
D ：統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、大值、小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；
E ：可測量任一測量點，小可達(dá)0.025 x 0.051毫米