精確的熱擴(kuò)散系數(shù)與導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試,覆蓋 RT...1250°C 的寬廣溫度范圍
耐馳公司新款閃射法導(dǎo)熱儀 LFA 467 HyperFlash® 基于成熟的 LFA 467 HyperFlash® 平臺(tái)構(gòu)建,可在室溫...1250°C之間進(jìn)行精確的熱擴(kuò)散系數(shù)與導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)量。儀器使用創(chuàng)新的氙燈光源系統(tǒng),擁有超長(zhǎng)的光源壽命,在寬廣的溫度范圍內(nèi)提供了精確的導(dǎo)熱測(cè)量,基本無(wú)耗材。
ZoomOptics - 優(yōu)化檢測(cè)范圍,獲取精確的測(cè)量結(jié)果
專利的 ZoomOptics 系統(tǒng)(專利號(hào):DE 10 2012 106 955 B4 2014.04.03)優(yōu)化了檢測(cè)器的檢測(cè)范圍,消除了樣品外緣的干擾信號(hào),可大大提高測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確度。
chao高的數(shù)據(jù)采集速率(zui高 2MHz),極窄的光脈沖寬度(zui小 20μs 以下),允許測(cè)量薄的高導(dǎo)熱的材料
LFA 467 HyperFlash® 系列產(chǎn)品的數(shù)據(jù)采集速率提升到了 2 MHz。這一chao高的數(shù)據(jù)采集速率同時(shí)體現(xiàn)在紅外檢測(cè)器,以及 pulse mapping 通道上。由此,可以有效地測(cè)試傳熱時(shí)間非常短的高導(dǎo)熱薄層材料,如厚度 0.3mm 左右的金屬薄片,或厚度 30μm 左右的聚合物薄膜。
專利的 pulse mapping 系統(tǒng)將有限脈沖寬度效應(yīng)、以及熱損耗納入計(jì)算(專利號(hào):US7038209 B2; US20040079886; DE1024241)。
耐馳公司新款閃射法導(dǎo)熱儀 LFA 467 HyperFlash® 基于成熟的 LFA 467 HyperFlash® 平臺(tái)構(gòu)建,可在室溫...1250°C之間進(jìn)行精確的熱擴(kuò)散系數(shù)與導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)量。儀器使用創(chuàng)新的氙燈光源系統(tǒng),擁有超長(zhǎng)的光源壽命,在寬廣的溫度范圍內(nèi)提供了精確的導(dǎo)熱測(cè)量,基本無(wú)耗材。
ZoomOptics - 優(yōu)化檢測(cè)范圍,獲取精確的測(cè)量結(jié)果
專利的 ZoomOptics 系統(tǒng)(專利號(hào):DE 10 2012 106 955 B4 2014.04.03)優(yōu)化了檢測(cè)器的檢測(cè)范圍,消除了樣品外緣的干擾信號(hào),可大大提高測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確度。
chao高的數(shù)據(jù)采集速率(zui高 2MHz),極窄的光脈沖寬度(zui小 20μs 以下),允許測(cè)量薄的高導(dǎo)熱的材料
LFA 467 HyperFlash® 系列產(chǎn)品的數(shù)據(jù)采集速率提升到了 2 MHz。這一chao高的數(shù)據(jù)采集速率同時(shí)體現(xiàn)在紅外檢測(cè)器,以及 pulse mapping 通道上。由此,可以有效地測(cè)試傳熱時(shí)間非常短的高導(dǎo)熱薄層材料,如厚度 0.3mm 左右的金屬薄片,或厚度 30μm 左右的聚合物薄膜。
專利的 pulse mapping 系統(tǒng)將有限脈沖寬度效應(yīng)、以及熱損耗納入計(jì)算(專利號(hào):US7038209 B2; US20040079886; DE1024241)。
真空密閉,保證氣氛純凈,防止樣品氧化
儀器內(nèi)置全自動(dòng)真空系統(tǒng),在測(cè)量開(kāi)始之前可進(jìn)行自動(dòng)抽真空與氣氛置換操作,保證了氣氛的純凈性。儀器另有擴(kuò)展的真空接口,可連接到外部真空泵。鉑爐為真空密閉設(shè)計(jì),zui快升溫速率可達(dá) 50K/min。
通過(guò)四樣品位+四組獨(dú)立熱電偶的設(shè)計(jì),提高測(cè)樣效率與測(cè)溫準(zhǔn)確性
儀器通過(guò)自動(dòng)進(jìn)樣器(ASC),實(shí)現(xiàn)了在寬廣溫度范圍內(nèi)的高效測(cè)試。ASC 包含四個(gè)樣品位,可裝載直徑 12.7mm 的圓形樣品,或 10mm 規(guī)格的圓形或方形樣品。每個(gè)樣品位都擁有獨(dú)立的熱電偶。這一設(shè)計(jì)極大地縮小了樣品與測(cè)溫點(diǎn)之間的溫度偏差。
體積小巧,高度集成化
LFA 467 HT HyperFlash® 是首款基于氙燈光源而能達(dá)到 1250°C 高溫的 LFA 系統(tǒng)。儀器配備單一的爐體,帶內(nèi)置的自動(dòng)進(jìn)樣器,在保持 LFA 467 HyperFlash® 一貫的小巧體積的同時(shí),覆蓋了寬廣的溫度范圍。即使在較高的溫度下,有效的內(nèi)部循環(huán)水冷系統(tǒng)仍能保證周圍部件的溫度處于安全范圍之內(nèi),由此減少了紅外檢測(cè)器的液氮消耗量。
儀器內(nèi)置全自動(dòng)真空系統(tǒng),在測(cè)量開(kāi)始之前可進(jìn)行自動(dòng)抽真空與氣氛置換操作,保證了氣氛的純凈性。儀器另有擴(kuò)展的真空接口,可連接到外部真空泵。鉑爐為真空密閉設(shè)計(jì),zui快升溫速率可達(dá) 50K/min。
通過(guò)四樣品位+四組獨(dú)立熱電偶的設(shè)計(jì),提高測(cè)樣效率與測(cè)溫準(zhǔn)確性
儀器通過(guò)自動(dòng)進(jìn)樣器(ASC),實(shí)現(xiàn)了在寬廣溫度范圍內(nèi)的高效測(cè)試。ASC 包含四個(gè)樣品位,可裝載直徑 12.7mm 的圓形樣品,或 10mm 規(guī)格的圓形或方形樣品。每個(gè)樣品位都擁有獨(dú)立的熱電偶。這一設(shè)計(jì)極大地縮小了樣品與測(cè)溫點(diǎn)之間的溫度偏差。
體積小巧,高度集成化
LFA 467 HT HyperFlash® 是首款基于氙燈光源而能達(dá)到 1250°C 高溫的 LFA 系統(tǒng)。儀器配備單一的爐體,帶內(nèi)置的自動(dòng)進(jìn)樣器,在保持 LFA 467 HyperFlash® 一貫的小巧體積的同時(shí),覆蓋了寬廣的溫度范圍。即使在較高的溫度下,有效的內(nèi)部循環(huán)水冷系統(tǒng)仍能保證周圍部件的溫度處于安全范圍之內(nèi),由此減少了紅外檢測(cè)器的液氮消耗量。
LFA 467 HT HyperFlash® - 技術(shù)參數(shù)
? 溫度范圍:RT … 1250°C(LFA 467 HT)
? 可選擇不同紅外傳感器,以在不同溫度范圍獲得信號(hào)響應(yīng)
? ZoomOptics 功能,優(yōu)化紅外測(cè)溫信噪比
? 激光源:氙 燈,能量可調(diào)
? 導(dǎo)熱系數(shù):0.1 … 4000W/mK
? 樣品尺寸:方形 8 x 8mm,10 x 10mm 圓形 ?10mm,?12.7mm,?25.4mm 厚度 0.01 … 6mm
? 測(cè)試氣氛:惰性或氧化
? 樣品形態(tài):固體、液體、粉末、薄膜
? 自動(dòng)進(jìn)樣器:zui多 4 個(gè)樣品位(LFA 467 HT)
? 冷卻設(shè)備:液氮制冷(選配)
? 全新測(cè)量系統(tǒng),尤其適合薄膜材料
LFA 467 HT HyperFlash® - 應(yīng)用實(shí)例
鎳基合金 - 全溫度范圍內(nèi)的高精度
圖中曲線為標(biāo)樣 Inconel 600 的熱擴(kuò)散系數(shù)(紅點(diǎn))、導(dǎo)熱系數(shù)(藍(lán)點(diǎn))和比熱(黑點(diǎn))測(cè)試結(jié)果。與理論值(實(shí)線)相比,實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)點(diǎn)的偏差均小于±3%,精度水平普遍好于±3%。
圖中曲線為標(biāo)樣 Inconel 600 的熱擴(kuò)散系數(shù)(紅點(diǎn))、導(dǎo)熱系數(shù)(藍(lán)點(diǎn))和比熱(黑點(diǎn))測(cè)試結(jié)果。與理論值(實(shí)線)相比,實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)點(diǎn)的偏差均小于±3%,精度水平普遍好于±3%。
銀
銀具有很高的電導(dǎo)率,有助于降低鍍線電阻,這在高頻率應(yīng)用時(shí)特別有利。
左圖對(duì)不同厚度銀片樣品進(jìn)行熱擴(kuò)散系數(shù)的對(duì)比測(cè)試。在 300K 的測(cè)試溫度下,不同厚度的樣品測(cè)試結(jié)果(從薄到厚)與文獻(xiàn)值相比,偏差均在 ±3% 以內(nèi)。
銀具有很高的電導(dǎo)率,有助于降低鍍線電阻,這在高頻率應(yīng)用時(shí)特別有利。
左圖對(duì)不同厚度銀片樣品進(jìn)行熱擴(kuò)散系數(shù)的對(duì)比測(cè)試。在 300K 的測(cè)試溫度下,不同厚度的樣品測(cè)試結(jié)果(從薄到厚)與文獻(xiàn)值相比,偏差均在 ±3% 以內(nèi)。