點(diǎn)擊圖片查看大圖泰安高低溫試驗(yàn)箱/聊城高低溫箱設(shè)備主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品,以及其原器件,及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。本試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求,在低溫、高溫、條件下,對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試,測(cè)試后,通過檢測(cè),來判斷產(chǎn)品的性能,是否仍然能夠符合預(yù)定要求,以便于產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。
泰安高低溫試驗(yàn)箱/聊城高低溫箱符合標(biāo)準(zhǔn) gb 10589 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 gb 10592 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 gb 11158 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 gb/t5170.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備 gb2423.1 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)a:低溫試驗(yàn)方法 gb2423.2 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)b:高溫試驗(yàn)方法 gb2424.1 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則
型號(hào) gdw-50 gdw-100 gdw-150 gdw-225
工作室尺寸:mm 350×350×450 400×450×550 500×500×600 500×600×750
型號(hào) gdw-408 gdw-800 gdw-1000 gdw-1500
工作室尺寸:mm 650×750×850 800×1000×1000 1000×1000×1000 1500×1000×1000
技術(shù)參數(shù) 溫度范圍 a型-20℃~+100℃(+150℃)/ b型 -40℃~+100℃(+150℃) c型 -70℃~+100℃ 波動(dòng)度≤±0.5℃ 均勻度≤2℃ 升溫速率1.0~3.0℃/min 降溫速率0.7~1℃/min
泰安高低溫試驗(yàn)箱/聊城高低溫箱適用于工業(yè)產(chǎn)品高溫、低溫的可靠性試驗(yàn)。對(duì)電子電工、汽車摩托、航空航天、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高溫、低溫(交變)循環(huán)變化的情況下,檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。產(chǎn)品具有較寬的溫度控制范圍,其性能指標(biāo)均達(dá)到國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)gb10592-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件,適用于按gb2423.1、gb2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)a:低溫試驗(yàn)方法,試驗(yàn)b:高溫試驗(yàn)方法》對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行低溫、高溫試驗(yàn)及恒定溫?zé)嵩囼?yàn)。產(chǎn)品符合gb2423.1、gb2423.2、gjb150.3、gjb150.4、iec
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